Page d'accueil	encyclopedie-enligne.com en page d'accueil
Liste Articles: [0-A] [A-C] [C-F] [F-J] [J-M] [M-P] [P-S] [S-Z] | Liste Catégories | Une page au hasard | Pages liées

Spectrométrie de fluorescence X

La spectrométrie de fluorescence X (SFX ou FX) est une méthode d'analyse chimique élémentaire utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.

Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentration massiques en éléments.

L'analyse du spectre peut se faire de deux manières :

• par analyse dispersive en longueur d'onde (WD-XRF, wavelength dispersive X-ray spectroscopy)
• par analyse dispersive en énergie (ED-XRF, energy dispersive X-ray spectroscopy)

Autres méthodes spectroscopiques utilisant des principes similaires

Il est possible de provoquer un rayonnement caractéristique secondaire X en bombardant avec d'autres radiations :

• en utilisant un faisceau d'électrons, c'est la microsonde de Castaing ;
• en utilisant un faisceau d'ions, c'est la méthode dite PIXE (particle induced X-ray emission ).

Lorsque l'on bombarde la matière avec des rayons X, celle-ci émet d'autres rayonnements qui peuvent être utilisés pour l'analyse :

• des électrons éjectés par effet photoélectrique, c'est la méthode dite XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) ou ESCA (electron spectroscopy for chemical analysis) ;

La désexcitation provoque également l'éjection d'électrons Auger, mais la spectrométrie Auger (AES, Auger electron spectrometry) utilise un faisceau d'électrons comme rayonnement incident.

Liens externes

• liste de diffusion xrf-l@listserv.syr.edu
• Analyse élémentaire par fluorescence X